Silicon Detector Dark Matter Results from the Final Exposure of CDMS II

Journal Article
Physical Review Letters, vol. 111, iss. 25, 2013
Authors
R. Agnese, Z. Ahmed, A. J. Anderson, S. Arrenberg, D. Balakishiyeva, R. Basu Thakur, D. A. Bauer, J. Billard, A. Borgland, D. Brandt, P. L. Brink, T. Bruch, R. Bunker, B. Cabrera, D. O. Caldwell, D. G. CerdeƱo, H. Chagani, J. Cooley, B. Cornell, C. H. Crewdson, P. Cushman, M. Daal, F. Dejongh, E. do Couto e Silva, T. Doughty, L. Esteban, S. Fallows, E. Figueroa-Feliciano, J. Filippini, J. Fox, M. Fritts, G. L. Godfrey, S. R. Golwala, J. Hall, R. H. Harris, S. A. Hertel, T. Hofer, D. Holmgren, L. Hsu, M. E. Huber, A. Jastram, O. Kamaev, B. Kara, M. H. Kelsey, A. Kennedy, P. Kim, M. Kiveni, K. Koch, M. Kos, S. W. Leman, B. Loer, E. Lopez Asamar, R. Mahapatra, V. Mandic, C. Martinez, K. A. McCarthy, N. Mirabolfathi, R. A. Moffatt, D. C. Moore, P. Nadeau, R. H. Nelson, K. Page, R. Partridge, M. Pepin, A. Phipps, K. Prasad, M. Pyle, H. Qiu, W. Rau, P. Redl, A. Reisetter, Y. Ricci, T. Saab, B. Sadoulet, J. Sander, K. Schneck, R. W. Schnee, S. Scorza, B. Serfass, B. Shank, D. Speller, K. M. Sundqvist, A. N. Villano, B. Welliver, D. H. Wright, S. Yellin, J. J. Yen, J. Yoo, B. A. Young, J. Zhang
English